勒霍普森DUO粗糙度仪：双模式测量的高效之选

泰勒霍普森DUO粗糙度仪是一款创新的双模式表面粗糙度测量设备，集接触式探针测量与非接触式光学测量于一体，满足现代制造中多样化、高效率的检测需求。DUO专为车间现场与质量实验室设计，适用于金属、塑料、陶瓷等多种材料表面，广泛应用于汽车零部件、精密模具、电子元件等领域。

该仪器采用高精度直线导轨与低摩擦探针系统，确保接触式测量的稳定性和重复性，可精确获取Ra、Rz、Rq等传统粗糙度参数。同时，集成的共聚焦或白光干涉光学头可在不接触工件的情况下完成快速扫描，特别适合软质、易损或复杂曲面的测量。两种模式可在同一平台上自由切换，用户无需更换设备即可完成不同类型的检测任务。

DUO配备直观的触摸屏界面与TalyProfile®软件，支持一键式测量、自动判别与报告生成。内置环境补偿与振动抑制技术，保障在工业环境下的测量可靠性。轻巧紧凑的设计便于移动使用，同时支持数据导出与SPC统计分析，助力企业实现全面质量管理。泰勒霍普森DUO粗糙度仪以其灵活性、精度与易用性，重新定义了表面粗糙度测量的标准，是现代智能制造的质量守护者。